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		题名	作者	年代	出处	被引量
	1	超高频无源RFID系统中Capture效应建模与分析显示文摘针对超高频无源射频识别(RFID)系统中Capture效应的分析问题,提出一种新颖的Capture模型-RFIDCap,并通过Monte-Carlo仿真分析了各系统参数对Capture效应的影响,同时比较了RFIDCap及其他传统模型与测试结果的符合程度.RFIDCap综合考虑了读写器抗干扰能力、无线信道损耗及衰落、标签反向散射等因素.仿真结果表明,读写器capture阈值、碰撞标签数量及标签位置是影响capture概率的主要因素.测试结果表明,实测数据与RFIDCap仿真值的均方误差小于3%,相对传统模型(均方误差大于12%)有较大幅度的改善.	李波王俊宇魏鹏奚经天	2011	小型微型计算机系统2011，32，2：	0

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