纳米钨粉粒度分布的表征研究

查看全文 作　　者：[1]朱丽慧;[1]邵光杰;[2]刘一雄;Dave [2]Siddle

机构地区：[1]上海大学材料科学与工程学院,上海200072;[2]KennametalInc.

出　　处：《上海金属》索引2007年第29卷第4期,共5页

基　　金：美国Kennametal公司资助 摘　　要：采用X射线小角散射法(SAXS)和光子相关谱法(PCS)测试了纳米钨(W)粉的粒度分布。结果表明,采用SAXS测试出的纳米W粉的粒度分布与透射电镜观察和比表面积法测试结果十分接近,能较为准确地表征纳米W粉的一次颗粒的粒度分布;但为了得到可信的结果,所选择的X射线衍射仪的最小可测试角必须足够小。PCS法测试的纳米W粉的粒度随分散条件的变化而变化,所提供的最佳分散条件可用于测定二次颗粒的粒度分布。 关键词：纳米钨粉粒度分布 X射线小角散射光子相关谱法

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