XPS和TOF-SIMS在硬盘驱动器(HDD)磁头表面微污染分析中的应用

查看全文 作　　者：[1]刘义为;Moulder J [2]F;Vlasak P [2]R;[3]蒋致诚;JIANG Zhi-[3]cheng

机构地区：[1]广东省东莞市新科磁电厂MTE部,,东莞523087;[2]Physical Electronics PHI, 6509 Flying Cloud Drive, Eden Prairie,;[3]Visiting Professor from Lanzhou Institute of Chemical Physics, Chinese Academy of Science

出　　处：《理化检验(化学分册)》索引2001年第37卷第2期,共3页

摘　　要：XPS和 TOF- SIMS表面分析仪器联用分析磁头臂焊接位表面有机微污染物成分 ,找出污染物的来源 ;XPS能够提供污染物中元素组成及价态信息 ,而 TOF- SIMS能够提供其分子信息。试验证明两者联用是分析表面有机微污染物强有力的手段。 关键词：XPS TOF-SIMS 硬盘驱动器磁头磁臂焊接位表面有机微污染物分析方法

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