维普中文期刊产品整合服务

计算几何在测试计量技术中的应用-求解最小外接圆

查看全文 作  者:[1]刘书桂索引[2]杨芳 [2]陶晋 高影响力作者 机构地区:[1]天津大学索引高影响力机构 出  处:《工程图学学报》索引2000年第21卷第3期,共7页高影响力期刊 基  金:国家自然科学基金!(59675083) 摘  要:本文提供一种在机械科学中评定最小外接圆形状误差的高效、高精度算法。该算法的核心是提出了一种删除对求解最小外接圆不会起任何作用的无关样本点的有效方法。交替运用计算几何中的最远点Voronoi图的性质和统计分析方法中的最小二乘法原理,可使最后参与求解最小外接圆的样本点数减至少量几个,相应算法的运算时间比以往的最优化算法快10倍以上。 关 键 词:计算几何 最小外接圆 最远点Voronoi图 圆度 形位误差
相关文献

参考文献(4)

引证文献(25)

网站首页 | 关于我们 | 联系我们 | 产品服务 | 客服中心 | 广告服务 | 版权声明 | 网站联盟 | 友情链接 | 售卡网点

版权所有© 渝B2-20050021-1 渝公网安备 50019002500403号 违法和不良信息举报中心

互联网出版许可证 新出网证(渝)字10号 全国400电话 - 免长途话费