基于公式递推法的可变计算位宽的循环冗余校验设计与实现

查看全文 作　　者：陈容 [1,2,3 ][1,3]陈岚索引WAHLA Arfan Haider [1,2,3 ]

机构地区：[1]中国科学院微电子研究所,北京100029;[2]中国科学院大学,北京100049;[3]三维及纳米集成电路设计自动化技术北京市重点实验室,北京100029

出　　处：《电子与信息学报》索引2020年第42卷第5期,共7页

基　　金：国家科技重大专项(2018ZX03001006-002)。 摘　　要：循环冗余校验(CRC)与信道编码的级联使用,可以有效改善译码的收敛特性。在新一代无线通信系统,如5G中,码长和码率都具有多样性。为了提高编译码分段长度可变的级联系统的译码效率,该文提出一种可变计算位宽的CRC并行算法。该算法在现有固定位宽并行算法的基础上,合并公式递推法中反馈数据与输入数据的并行计算,实现了一种高并行度的CRC校验架构,并且支持可变位宽的CRC计算。与现有的并行算法相比,合并算法节省了电路资源的开销,在位宽固定时,资源节约效果明显,同时在反馈时延上也有将近50%的优化;在位宽可变时,电路资源的使用情况也有相应的优化。 关键词：循环冗余校验并行算法公式递推法

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