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11篇 您的检索式：期刊名="IEEE International Test Conference"

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		题名	作者	年代	出处	被引量
	1	Inhomogeneous cellular atuomata for weighted random pattern generation显示文摘	NEEBEL D J KIME C R	1993	Proc of the IEEE International Test Conference on Desi-gning Testing and Diagnostic1993，1993，：	1
	2	A parity bit signature for exhaustive testing显示文摘	Akers S N	1988	Proc of IEEE International Test Conference1988，，：	1
	3	Analog boundary scan description language(ABSDL) for mixed-signal board test显示文摘	SUPARJO B	2006	IEEE International Test Conference2006，，：	1
	4	March-based RAM diagnosis algorithms for stuck-at and coupling faults显示文摘	LI J F CHENG K L HUANG Ch T	2001	IEEE International Test Conference2001，，：	1
	5	25um CMOS Devices显示文摘	Brain Kruseman Peter Jansesen Victor Zieren Transient Current Testing of 0	1999	IEEE international test conference1999，，：	1
	6	Development of a MEMS Testing Methodology显示文摘	Kolpekwar A	1997	IEEE International Test Conference1997，，：	1
	7	Accurate and complete ADC testing显示文摘	SMACK FAST	1989	IEEE International Test Conference1989，，8：	1
	8	UWB DCSK System Design and Simulation显示文摘	LI H SI F F	2009	IEEE International Conference on Test and Measurement2009，，01：	1
	9	Electronic chip-in-place test显示文摘	Goel P Mcmahon M T	1982	Proceedings of IEEE International Test Conference1982，，：	1
	10	Interconnect testing with boundary scan 显示文摘	Wagner P T	1987	Proceedings of IEEE International Test Conference1987，，：	1
	11	Artificial neural network for sensor failure detection in hovercraft engine显示文摘	Zhao X Ye X and Zhang C	1994	IEEE International Measurement and Test Conference1994，1，：	1

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