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10篇 您的检索式：期刊名="J Electronic Testing"

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		题名	作者	年代	出处	被引量
	1	Reliability statistics perspective on standard wafer-level electromigration accelerated test (SWEAT)显示文摘	Tan C M Yeo K N C	2001	J Electronic Testing2001，17，1：	1
	2	Diagnostics of filtered analog circuits with tolerance based on LS_ SVM using frequency features显示文摘	Long B Tian S Wang H J	2012	J Electron Test2012，28，3：	1
	3	SEU Fault-Injection in VHDL- Based Processors: A Case Study显示文摘	Wassim Mansour Raoul Velazco	2013	J Electron Test2013，29，：	1
	4	Classification of defective analog integrated circuits using artificial neural networks显示文摘	Stopjakova V Malogek P Misucik D	2004	J Electron Test Theory Appl2004，20，：	1
	5	A novel test points selection method for analog fault dictionary techniques显示文摘	Yang C L Tian S L Long B	2010	J Electron Test2010，26，5：	1
	6	Test points selection for analog fault dictionary techniques 显示文摘	Yang C L Tian S L Long B	2009	J Electron Test2009，25，23：	1
	7	On IEEE P1500's standard for embedded core test显示文摘	Marinissen E J Kapur R Lousberg M	2002	J Electronic Testing2002，18，45：	1
	8	Co-optimization of test wrapper and test access architecture for embedded cores 显示文摘	Iyengar V Chakrabarty K Marinissen E J	2002	J Electronic Testing : Theory and Applications2002，18，2：	1
	9	Distributed Diagnosis of Interconnections in SoC and MCM Designs 显示文摘	Pendurkar R Chatterjee A Zorian Y	2004	J Electron Test2004，20，3：	1
	10	Efficient LFSR Reseeding Based on Internal-Response Feedback显示文摘	Lien W C Lee K J Hsieh T Y	2014	J Electron Test2014，30，：	1

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