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1篇 您的检索式:作者名="D.Bourgault"
    题名 作者 年代 出处 被引量
1不同截面尺寸Bi-2223多芯带材的错配角显示文摘采用输运电流方法测试了37芯Bi2223带材的平均错配角.带材的错配角随带材厚度的降低而减小,同时带材Jc升高.但过薄的带材由于加工不稳定易导致Ag/超界面不规则现象,并破坏界面晶粒取向,造成错配角增大.李成山 张平祥 D.Bourgault E.Mossang A.Sulpice 刘奉生 赫清滨 郑会玲 熊晓梅 马荣超 纪平 周廉 2005低温物理学报2005,27,A02:0
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