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时间 1989 - 2010 学科选择学科
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13篇 您的检索式：作者名="Fewster P F"
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    题名 作者 年代 出处 被引量
1High-resolution diffraction-space mapping and topography显示文摘FEWSTER P F 1994Appl phys1994，58，：1
2Strain analysis of X- raydiffraction显示文摘Fewster P F Andrew N L 1998Thin Solid Films1998，319，：1
3High Resolution Diffraction-Space Mapping and Topography显示文摘 1994Appl Phys1994，58，：1
4Composition and lattice-mismatch measurement of thin semiconductor layers by x-my diffraction 显示文摘FEWSTER P F CURLIN C J 1987Journal of Applied Physics1987，62，10：1
5X-ray diffraction from polycrystalline multilayers in grazing-incidence geometry: measurement of crystallite size depth distribution显示文摘FEWSTER P F ANDREW N L HOLY V 2005Physics Review: B2005，72，17：1
6Mierostructure and composition analysis of group III nitrides by X-ray scattering 显示文摘FEWSTER P F ANDREW N L FOXON C T 2001Journal of Crystal Growth2001，230，34：1
7Determination of the Mn concentration in GaMnAs显示文摘Zhao L X Campion R P Fewster P F 2005Semicond Sci Technol2005，20，：1
8Strain analysis by X-ray diffraction 显示文摘FEWSTER P F ANDREW N L 1998Thin Solid Films1998，319，1：1
9Measurement of the lattice parameters in the individual layers of single-crystal superlattices 显示文摘BIRCH J SUNDGREN J E FEWSTER P F 1995Journal of Applied Physics1995，78，11：1
10Advances in the structural characterisation of semiconductor crystals by X-ray scattering methods显示文摘FEWSTER P F 2004Progress in Crystal Growth and Characterization of Materials2004，4849，：1
11X-ray diffraction from low-dimensional structures显示文摘Fewster P F 1993Semiconductor Sci Techn1993，8，11：1
12X-Ray diffraction from low-dimensional structures显示文摘FEWSTER P F 1993Semicond Sci Technol1993，8，：1
13Characterization of InAs on GaAs in the (110) orientation by X-ray diffraction and topography显示文摘HART L FEWSTER P F 1993Microsc Semicond Mater1993，134，9：1
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