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3篇 您的检索式：作者名="J.M.Hu"

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	题名	作者	年代	出处	被引量
1	失效机理鉴别在加速试验中的作用显示文摘就正常使用条件下出现的某些主要失效机理而论,加速寿命试验技术提供了一种研究电子元器件可靠性的简便方法.淡而,加速试验经常是在不知道失效机理,以及不保证被试验所加速的失效机理与正常使用条件下所观察到的失效机理相同的情况下进行.本文总结了电子元器件和封壳的普通失效机理,并研究了在加速试验过程中可能出现的失效机理转变.	J.M.Hu D.Barker 李世明	1995	电子产品可靠性与环境试验1995，13，5：	3
2	查看详情显示文摘	J.Ma J.M.Hu Z.Li C.W.Nan		0，，：	1
3	查看详情显示文摘	J.Ma J.M.Hu Z.Li C.W.Nan		0，，09：	1

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