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时间 1989 - 2010 学科选择学科
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10篇 您的检索式：作者名="Wondrak W"
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    题名 作者 年代 出处 被引量
1SiC devices for advanced power and high temperature applications 显示文摘WONDRAK W HELD R NIEMANN E 2001IEEE Industrial Electronics2001，48，2：1
2High temperature performance of NMOS integrated inverters and ring oscillators in 6H-SiC显示文摘Schmid U Sheppard S T Wondrak W 2000IEEE Transactions on Electron Devices2000，47，4：1
3Physical Limits and Lifetime Limitations of Semi conductor Devices at High Temperature显示文摘Wondrak W 1999Microelectronics Reliability1999，39，：1
4Therapeutic potential of Nrf2 activators in streptozotocin-induced diabetic nephropathy显示文摘Zheng H Whitman SA Wu W Wondrak GT Wong PK Fang D 2011Diabetes2011，60，11：1
5High temperature reliability testing of aluminum and tantalum electrolytic capacitors 显示文摘Dehbi A Wondrak W Ousten Y 2002Microelectronics Reliability2002，42，6：1
6High Temperature Performance of NMOS Integrated Inverters and Ring Oscillators in 6H-SiC显示文摘Schmid U Sheppard S T Wondrak W 2000IEEE Trans on Electron Devices2000，47，4：1
7Use of electromagnetic induction tomography for monitoring liquid metal/gas flow regimes on a model of an industrial steel caster显示文摘N Terzija W Yin G Gerbeth F Stefani K Timmel T Wondrak A J Peyton 2011Measurement Science and Technology2011，，1：1
8SiC devices for advanced power and high-temperature applica- tions 显示文摘Wondrak W Held R Niemann E Schmid U 2001IEEE Industrial Electronics2001，48，2：1
9High temperature reliability testing of aluminum and tantalum electrolytic capacitors显示文摘DEHBI A WONDRAK W OUSTEN Y 2002Microelectronics Reliability2002，42，5：1
10SiC devices for advanced power and high-temperature applications显示文摘Wondrak W Held R Niemann E 2001IEEETransactions on Industrial Electronics2001，48，：1
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